利用申請される前に、実施要領をご確認ください。
*印が付いている項目は、必ず入力してください。ここで登録された個人情報は、本申請の審査、支援に関わる連絡、支援終了後に必要な連絡に使用いたします。
*問い合わせID: 問い合わせIDをお持ちでない方は、利用申請の前に、利用についてお問い合わせください。
*氏名:
*氏名(カナ):
*所属:
*所属機関区分:
--------- 大学 高等専門学校 公的研究機関 大企業 中小企業 その他
*職名・学年:
*書類送付先郵便番号:
*書類送付先住所:
*電話番号:
*メールアドレス: あらかじめ、naist.jpからのメールが届くよう、設定をお願いします。
*年齢層:
--------- 20歳代以下 30歳代 40歳代 50歳代以上
*利用形態(複数選択可): 複数選択するときには Control キー(Mac は Command キー)を押したまま選択してください。
協力研究 技術代行 機器利用 技術相談 一般技術補助 高度技術補助
【利用形態で協力研究を選択された場合】協力研究の口数:
*利用希望装置(複数選択可): 複数選択するときには Control キー(Mac は Command キー)を押したまま選択してください。
500MHz NMR 400MHz 固体・溶液NMR 600MHz NMR 電子スピン共鳴装置 多機能分析走査電子顕微鏡 300kV透過電子顕微鏡 200kV透過電子顕微鏡 走査型透過電子顕微鏡 超高分解能電界放出型電子顕微鏡 低真空分析走査電子顕微鏡 X線構造解析装置 微小単結晶X線構造解析装置 ダイナミック光散乱光度計 多機能走査型X線光電子分光分析装置 大気中光電子分光装置 顕微レーザーラマン分光光度計 電子線マイクロアナライザ 円二色性分散計 光ダイナミクス分光装置 マトリックス支援レーザーイオン化Spiral飛行時間型質量分析計 二重収束型質量分析計 LC/TOFMS飛行時間型質量分析計 LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析装置 マトリックス支援レーザーイオン化飛行時間型質量分析計 二次イオン質量分析装置 微小デバイス特性評価装置 分光感度・内部量子効率測定装置 熱/電気物性評価装置 示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 分光エリプソメーター 微細形状測定装置 全自動元素分析装置 走査プローブ顕微鏡
*本申請に関連する採択済み公的研究資金の有無:
--------- 無 有
【本申請に関連する採択済み公的資金が有の場合】公的研究資金制度名:
【本申請に関連する採択済み公的資金が有の場合】公的研究資金課題名:
*本申請の研究課題名(日本語):
*本申請の研究課題名(英語):
*本申請の目的・研究の概要:
*利用料に関する同意事項: 装置の利用には利用料が必要です。
同意する 同意しない
*機器の利用制限に関する同意事項: 利用時間は装置の立ち上げ、立ち下げに係る時間も含むものとし、原則として平日の9時から17時までの間とします。繁忙期や大口利用などは日程調整の際に学内利用を優先することがあります。また、幅広いユーザーにご利用いただくために、装置毎に1日当たりの標準測定試料数を設定しております。
*利用報告書の作成に関する同意事項: 利用終了後、成果報告書を提出いただく予定にしております。様式等が整い次第、お知らせいたします。
*研究倫理に関する同意事項: 本研究課題申請者(協力研究者含む)は、本支援において得られた如何なるデータについても、研究倫理等のコンプアイランスを遵守し、真実と誠実に向き合うことを誓約します。(「研究活動における不正行為への対応等に関するガイドライン」(H26.8.26文部科学大臣決定)に基づく本学の不正防止に対する取り組みに準拠。)
この利用申請を受けて、本学マテリアル先端リサーチインフラ事業共用装置を利用する者および企業が、故意または過失により本学の施設、設備に損害を与えた時は、原形に回復し、又はこれに必要な経費を負担していただきます。(本学学内規程による。)