共用装置一覧

核磁気共鳴・電子スピン共鳴

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
500MHz NMR	日本電子	JNM-ECZ500R	予定	○
400MHz 固体・溶液NMR	日本電子	JNM-ECX400P	予定	○
600MHz NMR	日本電子	JNM-ECA600	ー	ー
電子スピン共鳴装置（ESR）	日本電子	JES-FA100N	ー	ー

電子顕微鏡

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
多機能分析走査電子顕微鏡（SEM）	日本電子	JSM-IT800	予定	○
300kV透過電子顕微鏡（TEM）	日本電子	JEM-3100FEF	ー	ー
200kV透過電子顕微鏡（TEM）	日本電子	JEM-2200FS	ー	ー
走査型透過電子顕微鏡（STEM）	日立ハイテク	HD-2700	ー	ー
超高分解能電界放出型電子顕微鏡（FE-SEM）	日立ハイテク	SU9000	ー	○
低真空分析走査電子顕微鏡（SEM）	日立ハイテク	SU6600	ー	○

回折・散乱

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
X線構造解析装置	リガク	SmartLab9kW/IP/HY/N	予定	ー
微小単結晶X線構造解析装置	リガク	VariMax RAPID RA-Micro7	予定	ー
ダイナミック光散乱光度計	大塚電子	DLS-6000	ー	○

分光・表面分析

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
多機能走査型X線光電子分光分析装置（XPS）	アルバック・ファイ	PHI5000VersaProbeⅡ	予定	○
大気中光電子分光装置	理研計器	AC-3	ー	○
顕微レーザーラマン分光光度計	日本分光	NRS-4100-30	ー	○
電子線マイクロアナライザ（EPMA）	島津製作所	EPMA1610	ー	ー
円二色性分散計（CD）	日本分光	J-820	ー	○
光ダイナミクス分光装置	独自組み上げ	ー	ー	ー

質量分析

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
マトリックス支援レーザーイオン化Spiral飛行時間型質量分析計	日本電子	JMS-S3000	ー	○
二重収束型質量分析計	日本電子	JMS-700 MStation	ー	ー
LC/TOFMS飛行時間型質量分析計	日本電子	JMS-T100LC AccuTOF	ー	○
LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析装置	日本電子	AccuTOF LC-plus 4G, DART/ESI/CSI/APCI	ー	ー
マトリックス支援レーザーイオン化飛行時間型質量分析計	ブルカー	autoflexⅡ	ー	○
二次イオン質量分析装置（SIMS）	アルバック・ファイ	ADEPT-1010	ー	○

デバイス特性

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
微小デバイス特性評価装置	日立ハイテク	NE4000	ー	○
分光感度・内部量子効率測定装置	分光計器	CEP-2000RP	ー	○
熱/電気物性評価装置（PPMS）	カンタムデザイン	PPMS EverCoolⅡ	ー	○

走査型プローブ顕微鏡

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
走査プローブ顕微鏡	日立ハイテクサイエンス	SPA400	ー	○

その他分析装置

装置名	メーカー	型式	データ収集	機器利用可能（利用者が操作できる装置）
示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置	日立ハイテクサイエンス	DSC 7000X/STA 7200	ー	○
分光エリプソメーター	ホリバ・ジョバンイボン	UVISEL ER AGMS-NSD	ー	○
微細形状測定装置	小坂製作所	ET200	ー	○
全自動元素分析装置	パーキンエルマー	2400ⅡCHNS/O	ー	ー